SoC/Analog 測試系統(tǒng) 3650產(chǎn)品特色

●50/100 MHz時鐘速率

100 /200 Mbps(多路復(fù)用)數(shù)據(jù)速率

●多達640個數(shù)字I/O引腳(測試頭2)32 M矢量存儲器

●32 M模式指令存儲器每引腳PPMU/頻率測量

●每個掃描鏈掃描特征至2G深度記憶測試的ALPG選項多達40個高壓I/O引腳

●8-32個16位ADDA通道選項32個高性能DPS通道邊緣放置精度:300ps

●32通道HDADDA混合信號選項

●8通道AWG和數(shù)字化儀ASO混合信號音頻頻段測試選項最大值HVVI模擬選項為3000V(堆疊式)

●最大值MPVI模擬選項的320A脈沖模式(聯(lián)動) VI45模擬選件每板32通道 PVI100模擬選件每板8通道

●微軟視窗軟件®7 / Windows®10 C++和GUI編程接口

●簡潔的全套直觀軟件工具

●其他平臺的測試程序和模式轉(zhuǎn)換器

●通過添加轉(zhuǎn)換套件，接受其他測試儀的DIB和探針卡支持STDF數(shù)據(jù)輸出

●氣冷式，體積小

半導(dǎo)體制造業(yè)是一個快速發(fā)展的行業(yè)。隨著設(shè)備變得越來越集成化和多功能化，資本設(shè)備必須能夠經(jīng)受幾代設(shè)備和應(yīng)用的考驗。Chroma 3650提供一系列可用選項，如AD-DA轉(zhuǎn)換器測試、用于內(nèi)存測試的ALPG、高壓PE、多掃描鏈測試、VI45、PVI100&MPVI模擬測試以及ASO & HDADDA混合信號測試，為許多設(shè)備類型提供廣泛的覆蓋范圍和靈活的配置。

Chroma 3650是一款具有高吞吐量和高并行測試能力的SoC測試系統(tǒng)，為無晶圓廠、IDM和測試機構(gòu)提供具有成本效益的解決方案。憑借全面的測試功能、高精度、強大的軟件工具和出色的可靠性，Chroma 3650是所有高性能微控制器、模擬IC、消費類SoC器件和晶圓分類應(yīng)用的測試解決方案。

低成本生產(chǎn)系統(tǒng)中的高性能

Chroma 3650降低了測試成本，不僅降低了整個系統(tǒng)的成本，還提供了更高的吞吐量和增強的并行測試能力。3650配備了Chroma*的PINF IC和復(fù)雜的校準系統(tǒng)，可在550ps內(nèi)提供良好的計時精度。3650的模式發(fā)生器具有高達32M的模式指令存儲器。這種廣泛的存儲器深度與向量存儲器的深度相匹配，允許為每個測試向量添加模式指令。

該系統(tǒng)強大的順序模式生成器提供了各種模式命令，以滿足復(fù)雜測試向量的需求。真正的每引腳測試架構(gòu)和無插槽邊界的靈活站點映射是為高吞吐量的多站點測試而設(shè)計的。憑借多達640個數(shù)字引腳、32個設(shè)備電源、每引腳PMU和模擬測試功能，3650在一個經(jīng)濟高效的測試解決方案中提供了出色的測試性能和吞吐量。

高并行測試能力

3650功能強大、用途廣泛的平行引腳電子器件擅長在多個引腳上同時執(zhí)行相同的參數(shù)測試。每個LPC板內(nèi)置64個數(shù)字引腳，由16個高性能色度引腳IC驅(qū)動，每個引腳支持4個時序發(fā)生器通道。集成的本地控制器電路簡化了資源管理和結(jié)果讀出，最大限度地減少了系統(tǒng)控制器的開銷。憑借其靈活的任意引腳到任意站點的映射設(shè)計，3650可在多達32個站點上進行高通量并行測試，從而優(yōu)化大規(guī)模生產(chǎn)效率并簡化布局。

靈活性

半導(dǎo)體行業(yè)是一個快速發(fā)展的行業(yè)，資本設(shè)備必須比幾代設(shè)備和應(yīng)用更長壽。憑借廣泛的可用選項，如AD-DA轉(zhuǎn)換器測試、用于內(nèi)存測試的ALPG、高壓PE、多掃描鏈測試和VI45 &PVI100 & MPVI模擬選項，Chroma 3650確保它將在未來幾年為您服務(wù)。

此外，Chroma 3650的平臺架構(gòu)允許第三方供應(yīng)商開發(fā)專門的儀器，可以輕松添加到特定的應(yīng)用中。在低成本生產(chǎn)測試系統(tǒng)中，它可以覆蓋比以往任何時候都更廣泛的設(shè)備，從而擴展測試的范圍。

占地面積小

3650采用風(fēng)冷、緊湊的測試頭中測試器設(shè)計，在高度集成的封裝中提供出色的通量，占用最小的占地面積。主機柜容納配電裝置，并為第三方儀器提供空間。通過可選的機械手，3650可用于封裝和晶圓測試。

強大的軟件工具套件-CRISP

3650配備了強大的Chroma集成軟件平臺(CRISP ),為快速測試開發(fā)、調(diào)試、生產(chǎn)和數(shù)據(jù)分析提供了全面的工具套件。CRISP將測試開發(fā)、執(zhí)行控制、數(shù)據(jù)分析和測試人員管理的功能集成到一個單一的平臺中。CRISP構(gòu)建于Microsoft Windows操作系統(tǒng)之上，利用C++，為所有測試需求提供了一個強大、直觀、快速運行的圖形用戶界面(GUI)。在 Project IDE工具中，測試開發(fā)人員可以輕松地在標準模板、用戶定義的模板和基于C++代碼的編輯器之間切換，從而快速創(chuàng)建可以自動擴展到多站點并行測試的測試程序。 CRISP還包括測試程序和測試模式轉(zhuǎn)換器，便于將測試程序從其他平臺移植到3650。

對于測試程序執(zhí)行，用戶可以在用于正常操作的系統(tǒng)控制工具和用于調(diào)試模式的計劃調(diào)試器工具之間進行選擇。計劃調(diào)試器工具提供諸如斷點、步進、步入、單步執(zhí)行、暫停和恢復(fù)、變量監(jiān)視、變量修改等設(shè)置，從而能夠?qū)y試程序進行精確控制。CRISP還提供了一套豐富的調(diào)試和數(shù)據(jù)分析工具。數(shù)據(jù)記錄，波形和示波器工具支持測量數(shù)據(jù)和數(shù)字波形的顯示。SHMOO和引腳余量工具支持通過自動和手動模式輕松調(diào)試參數(shù)余量。晶圓圖、摘要、直方圖和STDF工具對于收集和分析測試結(jié)果和參數(shù)表征是非常寶貴的。

對于運行時調(diào)試，測試條件監(jiān)視器和模式編輯器提供了高級功能，使用戶能夠在不中斷測試或修改源文件的情況下更改測試條件或模式數(shù)據(jù)。CRISP還包括用于模擬和ALPG選項的ADDA工具和位圖工具，允許用戶可視化AD-DA測試結(jié)果并輕松創(chuàng)建ADC模式。這套全面的GUI工具旨在滿足測試調(diào)試和報告的不同需求。

OCI工具是CRISP的大規(guī)模生產(chǎn)解決方案。這種用戶友好的界面簡化了生產(chǎn)人員的操作，并最大限度地減少了人為錯誤。使用生產(chǎn)設(shè)置工具根據(jù)生產(chǎn)環(huán)境的特定要求定制OCI工具后，操作人員只需選擇預(yù)先計劃的流程，即可開始生產(chǎn)運行。

SoC/Analog 測試系統(tǒng) 3650外圍設(shè)備

3650通過GPIB和TTL接口提供了與處理器和探頭的廣泛兼容性。它支持來自SEIKO-EPSON、SHIBASOKU、MULTITEST、ASECO、DAYMARC、TEL、TSK和OPUS II等制造商的各種行業(yè)標準設(shè)備。除了為測試平臺遷移提供方便的轉(zhuǎn)換器工具外，3650還提供適配器板解決方案，允許它與現(xiàn)有的測試平臺接口。這使得3650能夠直接接受來自其他測試儀的DIB和探針卡，消除了開發(fā)新負載板和探針卡的成本。

應(yīng)用支持

Chroma提供全面的應(yīng)用支持，滿足新老客戶的需求。無論您是希望通過創(chuàng)新戰(zhàn)略加快生產(chǎn)速度、利用新興市場機會、提高生產(chǎn)率還是降低測試成本，我們的全球客戶支持團隊都致力于根據(jù)您的特別需求提供及時有效的解決方案。